經過近三個月的不懈努力，兆維集團下屬智裝單元研發(fā)生產的OLED顯示器件亞微米裂紋缺陷自動光學檢測設備近日順利通過客戶廠驗，將于4月1日搬入客戶端工廠。該項目的順利交付，標志著兆維集團在新型OLED顯示缺陷檢測領域取得重要突破，實現關鍵技術和核心模塊自主可控。

       集團堅持自主研發(fā)，不斷加強關鍵核心技術攻關，此次根據客戶需求，研發(fā)的全自動外觀檢測設備，主要是針對柔性OLED顯示面板的圓孔、橢圓孔（雙圓孔）和其它孔邊緣產生的裂紋（Crack）、褶皺、剝離（Peeling）、彩虹紋、隔離柱殘留等缺陷進行自動檢測。設備的軟硬件核心模塊均為自主研發(fā)，涉及高精度光學成像技術和深度學習技術、高速頻閃照明和同步控制技術、微米級精密運動控制技術、以及配套的精密自動化系統(tǒng)。設備可以適用于高速、復雜背景條件下的微米級裂紋缺陷等不良的檢測需求。針對OLED顯示面板孔邊緣微裂紋檢測需求設備的檢測分辨率可達到0.5μm，圖像采集時間不超過2秒，為OLED顯示面板制造過程中亞微米級裂紋缺陷評估提供有力支撐。

       設備的研發(fā)成功，進一步夯實了集團在泛半導體視覺檢測領域的技術儲備，有助于突破新型OLED顯示器件在線式裂紋缺陷自動光學檢測設備核心技術“卡脖子”的問題，填補國內外技術空白，提高核心競爭力，為有效推動智能裝備產業(yè)平臺建設，確保集團“十四五”時期“二二一”核心戰(zhàn)略落地打下堅實基礎。